本系统采用双光路光谱仪，通过切换植被冠层下流光谱辐照度和上流光谱辐照度之间的光路，进一步计算反射光谱。这种解决方案可以避免不同光谱仪之间波长和辐射特性的发散。除了反射光谱外，该系统还能够根据反射光谱计算各种流行的植被指数。此外，该系统还提供了用于波长和辐射校正的软件模块。

仪器信息

全天候自动SIF (反射率) 测量系统

技术指标:

1分光计系统

光谱仪系统性能: 信噪比稳定，光谱重现性好，光谱分辨率高，系统性能稳定

* 1.1光谱仪 (SIF) (可定制)

1.1.1光谱范围: 640-800 nm (25um光谱狭缝)

1.1.2光学分辨率: 0.38 nm

1.1.3光谱采样间隔: 0.15 nm

1.1.4信噪比: 1000:1

1.1.4 CCD : 1024*58

1.1.5元素阵列CCD

1.1.6最高灵敏度: 200*103

1.1.7暗噪声: ≤ 3RMS

1.1.8光谱响应: 量子效率 @ 780 nm (70%)，量子效率 @ 680 nm (50%)

* 1.2光谱仪 (植被指数) (可定制)

1.2.1光谱范围: 200-1100 nm (25um光谱狭缝)

1.2.2光学分辨率: 1.3 nm，光谱采样间隔: 0.15 nm，信噪比: 250:1

1.2.3 CCD : 2048线性CCD

1.2.4暗噪声: ≤ 12RMS

1.2.5光谱响应: 量子效率 @ 350 nm (70%)，量子效率 @ 680 nm (35%)

2数据采集头

功能: 自动优化积分时间，防尘防雨余弦探头 (保护余弦校正器免受雨水和灰尘的影响，并确保设备收集的数据安全可靠)

2.1高通量光纤数据采集头

2.1.1长度: 10 m

* 2.2防雨数据采集头

2.3.1雨中自动屏蔽

2.3.2防尘罩

2.3.3余弦探头: 30 S/次

3恒温系统功能: 实时自动监控 (7*24 h)，监控系统温湿度状态

3.1恒温箱

3.1.1环境温度: 20 ℃-50 ℃

3.1.2恒温: 20 ℃-40 ℃(± 1 ℃)

3.1.3自由设定温度

3.1.4半导体TEC冷却

3.1.5实时监控和存储恒温器的温度和湿度

3.1.6实时监控并存储机箱内部的环境温度

3.1.7异常警告: 当温度异常时，将自动采取紧急措施

3.1.8预警处理: 报警 -- 关闭光谱仪 -- 关闭系统

4数据处理

* 4.1数据处理系统硬件

4.1.1英特尔

4.1.2 NM70高速芯片组

4.1.3面板类型: 工业控制面板TFT

4.1.4背光类型: 发光二极管

4.1.5亮度: 400 cd/m2

4.1.6线性误差: < 1.5%

4.2数据处理算法

4.2.1 SIF

4.2.2两种算法: 3FLD、SFM

* 4.2.3同时显示原始光谱、反射率、辐照度、SIF

4.3.1辐射校正模块

4.3.2频谱校正模块

4.3.3暗电流校正

4.3.4实时自动优化积分时间

4.3.5可调测量起止时间、间隔时间

4.3.6根据太阳高度角开始或停止测量

4.4其他人

4.4.1数据自动存储

4.4.2远程实时数据浏览

4.4.3数据异常监控报警

4.4.4多光谱同时显示

4.4.5访问修改参数 (积分时间、测试时间等)

5定制服务

可以根据用户的要求增加仪器功能或改变光谱仪的配置，软件参数可以修改后的according到现场情况。将提供数据分析的技术支持。

昼夜SIF变化

玉米植被光谱 (辐照度、表观反射率)